斯达半导体申请低杂散电感测试系统专利,降低杂散电感
国家知识产权局信息显示,斯达半导体股份有限公司申请一项名为“一种低杂散电感的测试系统及方法”的专利,公开号CN121831439A,申请日期为2025年12月。...
国家知识产权局信息显示,斯达半导体股份有限公司申请一项名为“一种低杂散电感的测试系统及方法”的专利,公开号CN121831439A,申请日期为2025年12月。...
国家知识产权局信息显示,斯达半导体股份有限公司申请一项名为“一种新型低电感高功率模块”的专利,公开号CN121941359A,申请日期为2025年12月。 专利...